Pyrometrie

  • Berührungsloses Messen von Oberflächentemperaturen
  • Einfachste Art bewegliche Teile zu messen
  • Kein mechanischer Verschleiß
  • Schnelle Reaktionszeiten
  • Keine Ableitfehler

Einleitung zur berührungslosen Temperaturmessung

Der Einsatz von Strahlungspyrometern ist oft die einfachste Methode, Temperaturen von Oberflächen zu messen.
Die typischen Nachteile von Anlegefühlern, wie Ableitfehler, Verschleiß- und Zeitverzug, entfallen bei der berührungslosen Temperaturmessung.

Hierbei gibt es einige Grundsätze zu beachten. Die wesentlichen Auswahlkriterien für ein Strahlungspyrometer sind der Spektralbereich und die Messfleckgröße.
Die in der Praxis am häufigsten anzutreffenden Messwertaufnehmer sind Teilstrahlungspyrometer im langwelligen Spektralbereich von 8 - 14 µm, oder kurzwellig  in schmalen Teilbereichen von 0,7 - 3 µm. Sonderbereiche für die Messung von Glas gibt es bei 5,14 µm.

Metallische Oberflächen weisen eine gute Emission im kurzwelligen IR-Bereich auf, während nichtmetallische Oberflächen im langwelligen Spektralbereich besser und stabiler die IR-Strahlung emittieren.
Dabei ist zu beachten, dass lediglich das Oberflächenmaterial ausschlaggebend für die Emissionsfähigkeit ist, d.h. lackierte, metallische Gegenstände emittieren langwellig sehr gut und sind somit sehr gut messbar. Das Gleiche gilt auch für verölte, verschmutzte oder verrostete Bleche. Im Zweifelsfall kann unser Emissionsfaktor-Spray (Artikel-Nr. 03304) aufgetragen werden; oder eine Vergleichsmessung mit einem Digital-Thermometer (z.B. MP 2000 - Artikel-Nr. 3740300) und Anlegefühler vorgenommen werden.

Somit sind Optron® Pyrometer ausgelegt auf die Messung von nichtmetallischen Oberflächen. Lackierte bzw. oberflächenbehandelte Metalle sind ebenfalls messbar.

 

Der Messfleck

Das optische System eines Strahlungspyrometers bildet abstandsabhängig auf dem Messobjekt einen Messfleck ab. Die IR-Abstrahlung dieser Fläche wird für das Messsignal ausgewertet. Der Messabstand muss nun so gewählt werden, dass der Messfleck flächenmäßig stets kleiner als das Messobjekt selbst ist. Anderenfalls kann Hintergrundstrahlung das Messergebnis verfälschen.

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